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蔡司扫描电镜X射线显微镜锂电材料全方位形貌表征分析

分类:公司新闻 发布时间:2023-10-10 6653次浏览

  究竟是什么原因导致了材料结构的差异?  电池老化后,活性材料本体与表界面都发...

  究竟是什么原因导致了材料结构的差异?

  电池老化后,活性材料本体与表界面都发生了什么?

  批量表征数据难以快速分析?材料内部信息难以准确获取?

  锂离子电池的能量密度、循环寿命和倍率等性能从根本上取决于体相的理化反应、结构变化、机械性能,形态演变以及界面反应等。伴随着锂电池产品质量要求的不断提升与材料体系的迭代创新,多种表征、检测、计算模拟技术已被用于分析和预测电池性能相关的各种参数。

  泰安蔡司泰安扫描电镜/泰安X射线显微镜/FIB双束泰安扫描电镜等多尺度、多维度的研究平台,针对锂离子电池正、负极材料、隔膜及关键辅材,提供了从材料制样、理化特性表征到智能数据分析的全方位解决方案,助力锂电池材料产业链从研发到生产全流程。

  全方位形貌表征及智能图像分析

  高分辨、无损伤、大景深成像及智能分析

  搭载Gemini镜筒及高效探测器的蔡司场发射泰安扫描电镜(查看更多)为前驱体、成品、老化后材料提供从形貌表征、尺寸测量到分布统计的全方位表征,即使是纳米级的颗粒、孔隙、缺陷、包覆物结构也能精准无损表征。不导电样品无需镀膜,磁性样品直接观测。

  智能图像分析软件ZEN提供机器学习算法,实现AI自动识别特殊结构,助力数据批量处理,高效处理繁重分析工作。泰安蔡司泰安扫描电镜  ▲ 1.利用高放大倍数下的SEM图像观察NCM二次颗粒的整体形貌;2.利用低放大倍数下的SEM图像观察石墨/硅混合负极颗粒的分布;3.利用背散射电子图像分析NCM二次颗粒内部的一次晶粒分布;4.利用Zen软件对隔膜的孔隙率进行分析,孔隙率为29.89%

  轻松拓展多模态微观性能分析

  从元素、晶体结构、官能团到微观电学、力学性能测量

  SEM集成EDS、EBSD、Raman、EBIC、EPMA及AFM等丰富的拓展技术,为单相、复合、掺混材料及极片样品提供精准而全面的微观性能分析,即使是锂元素也可实现ppm级高精度分析。

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  ▲ 1.NCM颗粒的拉曼光谱(插图,右上)、EDS mapping(插图,右中)及飞行时间二次离子质谱(插图,右下)分析;2.NCM/LMO混合材料的电子背散射衍射(EBSD)及EDS分析

  高精度内部结构表征与三维分析

  快速无损高精度截面加工、内部信息获取及三维重构分析

  蔡司双束电镜FIB-SEM(查看更多)为材料、极片提供高精度的截面加工及成像分析,搭载飞秒激光的激光双束电镜LaserFIB尤其适合大尺寸极片及电芯截面的快速定位制备,冷冻聚焦离子束Cryo-FIB(查看更多)配合冷冻传输系统,能够在低温冷冻条件下对含液或环境敏感样品进行加工,保持样品真实结构。

  FIB-SEM配合Atlas 5 3D三维重构软件对材料或极片样品边切边看,实现高精度连续层析成像,并自动对样品内部纳米级细节的三维分布进行智能分析。

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  ▲ 1.Laser FIB预处理后的石墨/硅负极极片样品截面;2.利用FIB-SEM连续层析成像边切边看、自动分析材料、粘结剂及孔隙分布

  跨尺度关联分析

  电芯/极片表面及内部特定区域的智能识别、精准定位及高分辨分析

  蔡司X射线显微镜(XRM)(查看更多)、泰安光学显微镜及FIB-SEM组成的多尺度、多维度关联分析平台,为锂电材料提供从粉料、极片到电芯层级,从新鲜、活化到老化全生命周期的微观性能分析,即使是商业化电芯内部的微纳米级缺陷,也可以轻松识别并分析。

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  1.利用XRM对及极片进行无损三维表征及缺陷位置定位;2.利用FIB-SEM借助Atlas 5数据定位切割极片的缺陷位置;3.利用SEM及EDS对缺陷位置进行形貌及成分分析

  先进的表征分析技术使得结构-加工-性能关系的建立成为可能,蔡司多尺度、多维度显微解决方案为您提供锂电材料在粉料、极片、电芯层级全生命周期的多尺度、多维度的微观性能分析,助力您材料研发生产的全流程。


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